渦流涂鍍層測(cè)厚儀SLD-JX840

適用范圍：適用于幾乎所有超聲測(cè)厚應(yīng)用，而且與所有雙晶探頭完全兼容。包括使用雙晶探頭對(duì)內(nèi)壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測(cè)量，對(duì)涂有漆膜的工件進(jìn)行真實(shí)的厚度精確檢測(cè)。

規(guī)格參數(shù)：

增益范圍：0～52dB（1.0步進(jìn)）；

P-E模式探測(cè)范圍 ： 0.75～1000.0MM；

頻帶寬度： 0.5～15.0MHz；

可穿透涂層厚度： 1MM；

E-E模式穿透涂層后可測(cè)范圍： 2～200MM；

聲速范圍： 500～9999m/s；

位移范圍： 0.00～1000.0mm；

探頭方式： 雙晶；

測(cè)量精度： 0.01mm；

顯示模式： 全屏數(shù)顯、AScan、BScan；

測(cè)量單位：公制（mm）/英制（in）；

閘   門 ： 門高連續(xù)可調(diào)；

輸出端口： Mini USB；

打印輸出： 存儲(chǔ)波形和數(shù)據(jù)；顯 示 器： 2.4"真彩顯示320×240；

電池工作時(shí)間： >3小時(shí)；

工作溫度： -20℃～50℃；

電      源 ：三節(jié)AA型堿性干電池；

外形尺寸： 150（長(zhǎng)）×75（寬）×32（厚）（mm）；

整機(jī)重量： 0.275Kg（含電池）。